6500B 계열 정밀 임피던스 분석기는 최대 120MHz의 주파수에서 부품을 정확하고 빠르게 테스트합니다. 기본 측정 정확도는 ± 0.05 %로 동급 최고의 계측기입니다. 정확성과 다양성으로 인해 정밀 분석기는 수동 부품 설계, 유전체 특성 분석 및 제조 테스트를 포함한 다양한 작업 및 응용 분야에 이상적인 선택입니다. 엔지니어는 높은 정확도로 고주파수에서 부품 특성을 평가해야합니다. 따라서 65120B 120 MHz 정밀 임피던스 분석기는 저렴한 가격으로 정확성과 사용 편의성을 결합하여 많은 까다로운 작업에 이상적입니다. 최대 120MHz의 주파수 범위가 필요하지 않은 경우 다른 모델을 사용할 수 있습니다. 6505B 5MHz 계측기는 해당 범위의 엔트리 레벨 모델입니다.

6505B    20Hz to 5MHz
6510B    20Hz to 10MHz
6515B    20Hz to 15MHz
6520B    20Hz to 20MHz
6530B    20Hz to 30MHz
6550B    20Hz to 50MHz
65120B   20Hz to 120MHz

높은 측정 정확도
캐패시턴스, 인덕턴스 및 임피던스 기본 정확도는 우수한 ± 0.05 %입니다. 손실 계수 정확도는 ± 0.0005이고 품질 계수 정확도는 ± 0.05 %입니다.

구성 요소의 그래픽 스윕
6500B 시리즈 정밀 임피던스 분석기는 다양한 유용한 기능을 갖춘 고정밀 고주파 성분 분석기입니다. 두 개의 측정 된 매개 변수의 그래픽 스윕을 사용할 수 있으며 선명한 대형 컬러 디스플레이에 표시됩니다. 스윕 매개 변수는 주파수, 드라이브 레벨 및 DC 바이어스입니다. 사용 가능한 디스플레이 형식에는 직렬 또는 병렬 등가 회로가 있습니다. 등가 회로 분석 기능을 사용할 수 있습니다. 이를 통해 다양한 등가 회로 모델에 대한 모델링 및 곡선 맞춤이 가능합니다. 세 가지 구성 요소와 네 가지 구성 요소 모델의 네 가지 유형을 사용할 수 있습니다. 계측기는 측정 트레이스에 대해 가장 가까운 등가 회로 파라미터를 계산하고 결과를 수정합니다. 또는 구성 요소 매개 변수를 입력 할 수 있으며 계측기는 주파수 특성을 플롯합니다. 단일 주파수 측정의 경우 미터 모드를 사용할 수 있습니다.

가변 드라이브 및 바이어스 레벨
실제 운영 환경에서 구성 요소를 평가하기 위해 최대 1V 또는 20mA의 AC 드라이브 레벨을 선택할 수 있습니다.
/ D1 DC 바이어스 옵션은 0 ~ + 40V dc 바이어스 전압과 0 ~ + 100mA dc 바이어스 전류를 제공하고 / D2 옵션은 -40V ~ + 40V dc 바이어스 전압을 제공합니다.

외부 통제
GPIB 인터페이스는 기기를 제어하고 품질 관리와 같은 응용 분야 또는 보관 목적으로 측정 된 값을 다시 읽는 데 사용됩니다.
이더넷 인터페이스도 마찬가지로 계측기를 제어하고 데이터를 전송할 수있어 여러 테스트 환경에 통합 할 수 있습니다.

광범위한 인터페이스
외부 모니터 또는 프로젝터가 기기에 연결되어있을 수 있습니다. 대형 화면 디스플레이를 제공하는 기능은 프로덕션 환경이나 교육 및 훈련에 매우 중요합니다. 키보드와 마우스로 기기를 제어 할 수 있습니다. PS / 2 또는 USB 인터페이스가있는 모든 키보드 또는 마우스를 간단히 연결하여 대체 기기 제어 및 작동 방법을 제공 할 수 있습니다.

데이터 저장 및 검색
모든 측정 및 설정 데이터는 이더넷 인터페이스 또는 USB 플래시 메모리 (표준으로 제공)를 사용하여 저장할 수 있습니다.

설정 데이터
각 모드마다 최대 20 개의 기기 설정을 로컬에 저장할 수 있습니다.

BIN 처리
/ B1 옵션 (비 절연 5V) 또는 / B2 옵션 (절연 24V) 신호는 25 웨이 D 형 커넥터를 통해 사용할 수 있습니다. 절대 또는 백분율 제한을 사용하여 10 개의 빈을 설정할 수 있습니다.

프린터 출력
하드 카피 출력물은 HP-PCL 호환 그래픽 프린터 또는 Epson 호환 텍스트 / 티켓 프린터로 직접 전송하는 등 여러 가지 방법으로 얻을 수 있습니다. 이더넷 연결을 통해 네트워크로 연결된 HP-PCL 호환 프린터를 사용할 수도 있습니다.

구성 요소 연결
4 개의 전면 패널 BNC 커넥터를 사용하면 접지 전위에서 화면과 3-4 개의 터미널을 연결할 수 있습니다. 표준으로 제공되는 1J1011 구성 요소 고정구는 리드 구성 요소 및 장치의 광범위한 구성 요소를 측정 할 때 최적의 성능을 보장합니다. 1J1012 (2 터미널) 및 1J1014 (4 터미널) 픽스처는 표면 장착 장치에 연결할 수 있습니다.

충전 커패시터로부터 보호
충전 된 커패시터로 인해 고정밀 측정 기기가 손상 될 수 있으며, 이로 인해 수리 비용이 많이 들고 허용되지 않는 다운 타임이 발생할 수 있습니다. 이 범위의 모든 모델에는 충전 커패시터에 대한 보호 기능이 통합되어 있습니다.

고주파수에서 포괄적이고 정밀한 부품 테스트
6500B 시리즈 기능은 "고주파에서 포괄적이고 정밀한 부품 테스트"로 가장 잘 요약됩니다. 이 기기는 구성 요소 측정 요구가 까다로운 사용자에게 완벽한 솔루션입니다.


6500B 시리즈 임피던스 분석기 사양
 - 정확한 고주파 임피던스 측정
 - 20 ~ 120 MHz의 부품 특성화
 - 최대 주파수가 5MHz (6505B) ~ 120MHz (65120B) 인 광범위한 모델
 - 0.05 % 기본 측정 정확도
 - 0 ~ + 40V DC 바이어스 전압 및 0 ~ 100mA DC 바이어스 전류 (옵션)
 - ± 40V DC 바이어스 전압 (옵션)
 - 종합적인 측정 기능
 - 대형 TFT 터치 스크린과 함께 사용하기 쉬움
 - 선명한 그래픽 디스플레이로 측정 지원
 - 단일 및 반복 측정을위한 기존 LCR 미터 모드
 - 공명 검색
 - 등가 회로 분석 (옵션)
 - 직관적 인 사용자 인터페이스
 - GPIB 및 LAN을 통해 완전히 프로그래밍 가능
 - 극좌표 및 복합 도표 사용 가능 (옵션)
 - 다중 측정 모드 사용 가능 (옵션)
 - 키보드 및 마우스 옵션 제어

6500B 시리즈 임피던스 분석기 사양

 

1EV1006
1EV1006
4 터미널 구성 요소 고정구, 축, 방사형 또는 밴딩 된 구성 요소를위한 원격 테스트 고정구. 4 개의 BNC 커넥터에서 케이블 종단 처리 완료

1EV1505
1EV1505
4 터미널 리드, 600mm 연장 케이블, 기기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 구성 요소 끝에서 4 개의 개별 악어 클립으로 종단되었습니다.

1EV1905A
1EV1905A
SMD 프로브 리드, 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 1905A ead는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와의 인터페이스에 사용됩니다.

1EV1905X
1EV1905X
1023의 SMD 프로브 리드, 1905X는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와 인터페이스하기위한 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 4-2 BNC 변환기 및 리드입니다.

1EVA40100
1EVA40100
켈빈 클립 (미세 턱), Wayne Kerr 켈빈 클립은 분석기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 테스트 대상 장치 끝에서 한 쌍의 4 단자 켈빈 클립으로 끝나는 0.6m 케이블 어셈블리로 구성됩니다.

1EVA40120
1EVA40120
무연 장치에 접촉하기위한 칩 족집게, SMD 족집게. 케이블은 BNC 커넥터로 종단됩니다.

1EVA40150
1EVA40150
켈빈 클립, 40150은 4300 시리즈 LCR 미터와 함께 사용하기위한 1EVA40100 Fine Jaw 켈빈 클립의 가격에 민감한 버전입니다.

1EVA40180
1EVA40180
켈빈 클립 (대형 턱), 600mm 연장 케이블, 기기 끝단에는 4 개의 BNC 커넥터가 있고 종단에는 ​​큰 턱 켈빈 클립이 있습니다.

1EVA40125
1EVA40125
SMD 핀셋

1J1001
1J1001
변환기 4 대 1 BNC, 1J1001 4 대 1 BNC 변환기는 단일 BNC 커넥터를 사용하여 Wayne Kerr 6500 분석기를 테스트 대상 장치에 연결하는 데 사용됩니다. 이는 DUT의 연결 단자가 일부 안테나와 같은 단일 BNC 인 경우에 유용합니다. 단일 BNC의 외부는 격리되어 있습니다.

1J1002
1J1002
변환기 4-2 BNC, 1J1002 4-1 BNC 변환기는 Wayne Kerr 6500 분석기를 두 개의 BNC 커넥터에서 종료되는 테스트 대상 장치에 연결하는 데 사용됩니다.

1J1011
1J1011
구성 요소 고정구

1J1012
1J1012
SMD 2 단자 고정구, 1012 고정구는 접촉 표면 실장 장치를 종단하기 위해 2 단자 측정을 수행하며 중간 및 고 임피던스 장치에 적합합니다.

1J1014
1J1014
SMD 4 단자 고정구, 1014 고정구는 접촉 표면 실장 장치를 종단하기 위해 4 단자 측정을 수행하며 특히 저임피던스 장치에 적합합니다.

1J1020
1J1020
유전체 재료 고정 장치, 1020 고정 장치는 6500 시리즈와 함께 사용되며 / K 재료 테스트 펌웨어 옵션과 함께 사용하면 테스트중인 재료 (MUT)의 유전율을 자동으로 계산할 수 있습니다. 접촉 전극 최대 30MHz의 주파수까지 사용되는 방법.

1J1022
1J1022
액체 고정구, 1J1022 액체 고정구는 액체 물질의 정확한 유전 상수 및 임피던스 측정을 위해 사용됩니다. Wayne Kerr 6500 분석기와 함께 사용하는 경우 1J1002 4-2 BNC 변환기 (별도 구매)도 사용해야합니다.

1J1023
1J1023
BNC 4-2 어댑터, 1023 어댑터를 사용하면 전면 패널에 2Term / 4Term 전환 기능이없는 4300 및 6500과 같은 4 터미널 분석기에 2 터미널 액세서리를 사용할 수 있습니다.

1J1025
1J1025
접지 된 구성 요소 프로브, 1025 프로브를 통해 6500은 접지 기준 임피던스 측정을 수행 할 수 있습니다. 정상적인 사용에서 6500은 하나의 터미널이 접지를 직접 참조하는 구성 요소를 측정 할 수 없지만 1025 프로브가이 제한에 대한 솔루션입니다.

1J1026
1J1026
DIP 픽스처, 1026 픽스처는 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용하여 최대 20A까지 테스트하기 위해 기존 DIL 장치를 장착합니다

1J1027
1J1027
DIP 픽스처, 1027 픽스처는 최대 65A를 테스트하기 위해 기존 DIL 장치를 장착하기 위해 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용됩니다

1J1028
1J1028
DIP 픽스처, 1028 픽스처는 최대 65A를 테스트하기 위해 기존 DIL 장치를 장착하기 위해 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용됩니다

1J1031
1J1031
SMD 2 단자 하단 접점 어댑터, 1031 어댑터는 1026, 1027 또는 1028 픽스처와 함께 사용되어 최대 80A 테스트를 위해 하단 접점 표면 실장 장치에 2 단자 연결이 가능합니다.

1J10264
1J10264
4 개의 터미널 SMD 픽스처, 10264 픽스처는 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용되어 최대 20A의 테스트를 위해 하단 접점 표면 실장 장치에 4 개의 터미널 연결 가능

1J10274
1J10274
4 개의 터미널 SMD 픽스처, 10274 픽스처는 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용되어 최대 40A의 테스트를 위해 하단 접점 표면 실장 장치에 4 개의 터미널 연결 가능

1J10284
1J10284
4 개의 터미널 SMD 픽스처, 10284 픽스처는 6565 dc 바이어스 장치와 함께 사용되어 최대 80A의 테스트를 위해 하단 접점 표면 실장 장치에 4 개의 터미널 연결 가능

1J10324
1J10324
SMD 4 단자 하단 접점 고정 장치, 10324 고정구는 하단 접점 표면 실장 장치에 대해 4 단자 측정을 수행하며 특히 임피던스가 낮은 장치에 적합합니다.

5-654-7010
5-654-7010
전송 표준 키트, 7010 전송 표준 키트