E4981A (커패시턴스미터)
| 주파수 범위 | 20 Hz to 1 kHz, 1 MHz |
|---|---|
| 측정 스피드 | 2.3 ms |
| DC 바이어스 | 0.1 V to 1 V |
| 정확도 | 0.07% |
| 인터페이스 | USB, LAN, GPIB |
E4981A 커패시턴스 미터 주요 특징 및 사양
측정 시간
- 고속 측정: 2.3ms(1MHz), 3.0ms(1kHz), 11.0ms(120Hz)
기본 정확도
- 정확한 C-D 테스트: 0.07%, 0.0005
추가 특징
- 9 빈 정렬
- 256 멀티채널 보정
- 4268A 및 4288A와 호환 가능한 SCPI 명령 및 핸들러/스캐너 인터페이스
- 높은 값의 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 일정한 테스트 레벨(자동 레벨 제어)
내용
E4981A 캐패시턴스 미터는 생산 라인에서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 고속의 신뢰할 수 있는 측정을 지원합니다. E4981A는 정확한 측정으로 작은 값에서 큰 값에 이르는 캐패시턴스 측정 기능을 실현했습니다. 테스트 처리율을 향상시키면서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 탁월한 구성요소 품질을 달성했습니다.
E4981A 커패시턴스 미터 주요 특징 및 사양
측정 시간
- 고속 측정: 2.3ms(1MHz), 3.0ms(1kHz), 11.0ms(120Hz)
기본 정확도
- 정확한 C-D 테스트: 0.07%, 0.0005
추가 특징
- 9 빈 정렬
- 256 멀티채널 보정
- 4268A 및 4288A와 호환 가능한 SCPI 명령 및 핸들러/스캐너 인터페이스
- 높은 값의 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 일정한 테스트 레벨(자동 레벨 제어)
내용
E4981A 캐패시턴스 미터는 생산 라인에서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 고속의 신뢰할 수 있는 측정을 지원합니다. E4981A는 정확한 측정으로 작은 값에서 큰 값에 이르는 캐패시턴스 측정 기능을 실현했습니다. 테스트 처리율을 향상시키면서 세라믹 캐패시터 테스트를 위한 탁월한 구성요소 품질을 달성했습니다.
E4981A 커패시턴스 미터 옵션
| E4981A-001 | Frequency, 120 Hz/1 kHz/1 MHz |
| E4981A-002 | Frequency, 120 Hz/1 kHz |
| E4981A-1A7 | Calibration + Uncertainties + Guardbanding (Not Accredited) |
| E4981A-1CM | Rack mount kit |
| E4981A-600 | Delete front handle kit |
| E4981A-A6J | ANSI Z540-1-1994 Calibration |
| E4981A-ABA | Printed manual, English |
| E4981A-ABJ | Japan - Japanese localization |
| E4981A-PLG | Continental European power cord - ONLY FOR EU DISTR W MULT PWR CORD STANDARDS |
| 16034E |
테스트 픽스처 (SMD 부품)
|
| 16034G |
SMD 테스트 픽스처
|
| 16034H |
SMD 어레이 유형 LCR 테스트 픽스처
SMD 어레이 유형 LCR 테스트 픽스처16034HThe Keysight 16034H is designed for impedance evaluations of array-type SMD.
|
| 16047A |
Test Fixture (Axial and Radial)
Test Fixture (Axial and Radial)16047AThe 16047A is designed for impedance evaluation of axial/radial lead type devices.
|
| 16047E |
테스트 픽스처
테스트 픽스처16047E16047E는 리드 타입 디바이스의 임피던스 평가를 위해 설계되었습니다.
|
| 16048A |
Test Lead, BNC Connector to BNC Connector Board
Test Lead, BNC Connector to BNC Connector Board16048AThe 16048A test leads extend the measurement port with a 4 terminal-pair configuration.
|
| 16048D |
2m BNC Test Cable
2m BNC Test Cable16048DThe 16048D test leads extend the measurement port with a 4-Terminal Pair configuration.
|
| 16065A |
200 Vdc External Voltage Bias Fixture
200 Vdc External Voltage Bias Fixture16065AThe 16065A test fixture makes it possible to measure a DUT with up to +/-200V DC BIAS.
|
| 16089A |
Large Kelvin Clip Lead
Large Kelvin Clip Lead16089AThe Keysight 16089A makes it possible to measure odd-shaped components that cannot be measured with conventional fixtures.
|
| 16089B |
Medium Kelvin Clip Lead
Medium Kelvin Clip Lead16089BThe Keysight 16089B makes it possible to measure odd-shaped components that cannot be measured with conventional fixtures.
|
| 16089C |
Kelvin IC Clip Lead
Kelvin IC Clip Lead16089CThe Keysight 16089C makes it possible to measure odd-shaped components that cannot be measured with conventional fixtures.
|
| 16092A |
스프링 클립 픽스처
스프링 클립 픽스처16092AThe Keysight 16092A test fixure is designed for impedance evaluation of both lead and SMD components.
|
| 16192A |
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처16192AThe 16192A test fixure is designed for impedance evaluations of side electrode SMD components.
|
| 16194A |
고온 부품 테스트 픽스처
고온 부품 테스트 픽스처16194AThe 16194A is designed for measuring both axial/radial leaded devices
|
| 16196A |
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz16196A동축 구조로 개발된 16196A SMD 테스트 픽스처는 최대 3GHz 의 RF 임피던스 측정을 수행합니다.
|
| 16196B |
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz16196B동축 구조로 개발된 16196B SMD 테스트 픽스처는 최대 3GHz 의 RF 임피던스 측정을 수행합니다.
|
| 16196C |
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~3GHz16196C동축 구조로 개발된 16196C SMD 테스트 픽스처는 최대 3GHz 의 RF 임피던스 측정을 수행합니다.
|
| 16196D |
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~ 3GHz
병렬 전극 SMD 테스트 픽스처, DC~ 3GHz16196D동축 구조로 개발된 16196D SMD 테스트 픽스처는 최대 3GHz 의 RF 임피던스 측정을 수행합니다.
|
| 16197A |
바닥 전극 SMD 테스트 픽스쳐
바닥 전극 SMD 테스트 픽스쳐16197A키사이트 16197A는 바닥 전극 SMD의 임피던스를 평가하도록 설계되었습니다.
|
| 16200B |
External DC Bias Adapter
External DC Bias Adapter16200BThe 16200B test fixture allows you to supply a bias current across the device of up to 5Adc through a 7mm port by using an external dc current source.
|
| 16334A |
Test Fixture (Tweezers Contacts)
Test Fixture (Tweezers Contacts)16334AThe 16334A is designed for impedance evaluations of SMD.
|
| 16380A |
Standard Air Capacitor Set (1pF to 1000pF)
Standard Air Capacitor Set (1pF to 1000pF)16380AThe 16380A is a standard capacitor set consisting of four precision capacitors
|
| 16380C |
Capacitance Standard Set - 0.01uF to 10uF
Capacitance Standard Set - 0.01uF to 10uF16380CThe 16380C is a standard capacitor set consisting of three precision capacitors - 0.01uF (16385A), 0.1uF (16386A), 1uF (16387A),and an optional 10uF (16338A).
|
| 16451B |
Dielectric Test Fixture
Dielectric Test Fixture16451BThe 16451B is used to evaluate the dielectric constant of solid dielectric materials accurately, and complies with ASTM D150.
|
| 42030A |
Four Terminal Pair Standard Resistor Set
Four Terminal Pair Standard Resistor Set42030AThe 42030A is a st
|
| 42090A |
Open Termination (4-Terminal Pair)
Open Termination (4-Terminal Pair)42090AThe 42090A is an open termination and is primarily used for performance tests of Keysight's 4-terminal pair LCR meters and impedance analyzers.
|
| 42091A |
Short Termination (4-Terminal Pair)
Short Termination (4-Terminal Pair)42091AThe 42091A is a short termination and is primarily used for performance tests of Keysight's 4-terminal pair LCR meters and impedance analyzers.
|
INFORMATION
상호 : 주식회사 알트로닉스 주소 : 서울특별시 금천구 가산디지털2로 101, 한라원앤원타워 B동 1401호 Tel : 02-2101-2140 Fax : 02-2101-2142
사업자등록번호 : 292-88-01789
사업자등록번호 : 292-88-01789
Copyright © 2019 주식회사 알트로닉스. All Rights Reserved.
designed by website.co.kr