포괄적 인 파라 메트릭 테스트로 구성 요소를 완벽하게 특성화
3255B 범위의 인덕턴스 분석기는 장치를 명확하고 간단한 방식으로 정확하게 특성화 할 수 있습니다. 인덕턴스 분석기는 3255BL (200kHz), 3255B (500kHz) 및 3255BQ (1MHz)의 3 가지 버전으로 제공됩니다. 부품 개발의 설계 단계에서 다양한 작동 조건에서 부품의 성능을 분석하는 것이 매우 중요합니다. 여기에는 다양한 주파수, AC 드라이브 레벨 또는 DC 바이어스 전류에 대한 작동이 포함됩니다. AC 드라이브 레벨은 1mV와 10V 사이에서 설정할 수 있습니다. DC 바이어스 전류는 내부적으로 1mA ~ 1A (옵션)로 설정할 수 있습니다. 외부 3265B 범위의 DC 바이어스 장치 바이어스 전류를 사용하여 최대 125A로 설정할 수 있습니다.

3255BL :   20 Hz to 200 kHz 
3255B   :   20 Hz to 500 kHz  
3255BQ :  20 Hz to 1 Mhz

테스트 결과의 출력
병렬 Centronics 인터페이스를 사용하면 추가 분석 및 보관을 위해 모든 테스트 결과를 직접 인쇄 할 수 있습니다. 또한 옵션 GPIB 인터페이스를 통해 기기를 PC에서 제어 할 수 있으며 분석 및 저장을 위해 결과를 읽을 수 있습니다. LabVIEW ™ 드라이버는 요청시 제공되거나 웹 사이트 www.waynekerrtest.com에서 다운로드하여 사용자가 특정 테스트 어플리케이션을 개발할 수있는 기반을 제공합니다.

BIN 정렬
비닝 기능을 통해 구성 요소 제조업체는 구성 요소를 최대 10 개의 빈으로 분류 할 수 있습니다. 정렬은 절대 값 또는 값의 백분율로 수행됩니다.

최대 125A DC 바이어스 전류로 구성 요소 테스트
3255B 및 3255BQ를 사용하면 옵션 3265B DC 바이어스 장치를 사용하는 경우 최대 125A에서 구성 요소를 측정 할 수 있습니다. 3265B / 5A 또는 3265B / 10A를 사용하여 DC 바이어스 전류를 최대 50A로 확장하는 3255BL과 함께 확장 된 DC 바이어스 기능도 사용할 수 있습니다. DC 바이어스 장치 중 최대 5 개를 병렬로 사용하여 광범위한 DC 바이어스 전류를 제공 할 수 있습니다. 내부 DC 바이어스는 1mA ~ 1A의 DC 바이어스 전류를 제공하는 옵션으로 제공됩니다. 3265B에는 후면 EMF로부터 사용자를 보호하기위한 안전 인터록 시스템을 포함하여 여러 가지 안전 및 보호 기능이 있습니다. 또한 과열, 과전압 강하 및 감지 리드 고장으로부터 완벽하게 보호됩니다.

최대 50A의 SMD 인덕터 테스트
1009 DC 바이어스 픽스처를 추가하면 부품 바이어스 테스트 동안 SMD 인덕터에 최대 50A의 DC 바이어스 전류를 적용하여 작동 바이어스 전류에서 디바이스를 철저하게 평가할 수 있습니다. 이 고정 장치는 하나 또는 두 개의 3265B / 25A Wayne Kerr DC 바이어스 장치 및 3255B 인덕턴스 분석기와 함께 작동합니다. 두 개의 3265B / 25A를 사용하는 경우 옵션 5-328-2005 고전류 리드 세트가 필요합니다. 4 개의 후면 패널 장착 BNC 커넥터와 2 개의 캡 티브 고전류 케이블은 3265B로 간단하고 사용하기 쉽습니다. 교체 가능한 부품 테스트 캐리어는 1009 테스트 픽스처가 다양한 장치와 함께 사용될 수 있도록합니다. 장치 별 테스트 픽스처를 개발할 수있는 블랭크 캐리어를 사용할 수도 있고 캐리어 설계 및 제조 서비스를 이용할 수도 있습니다. 안정적인 부품 고정 장치는 높은 정확도와 반복 가능한 측정을 보장합니다. 안전 인터록이있는 밀폐형 고정 장치는 작업자의 위험을 최소화합니다.


 - 3 가지 모델 : 3255BL, 3255B 및 3255BQ
 - 넓은 주파수 범위 (20Hz ~ 3MHz)
 - 0.1 % 기본 정확도
 - Z, L, C, Rac, Ø, Q, D, Rdc 및 회전비
 - 내부 1A DC 바이어스 전류 (옵션)
 - 5 x 3265B에서 최대 125A의 DC 바이어스 전류
 - 빈 기능 (옵션)
 - 다중 주파수 모드
 - 빠른 측정 속도 (초당 최대 20 회 측정)
 - 직관적 인 직관적 인 조작
 - 테스트 결과 인쇄
 - LabVIEW ™ 드라이버로 GPIB 컨트롤

3255BL LCR미터 사양
 

Measurement Function	Z, Ø, L, C, Rac, Rdc, Q, D, turns ratio
Frequency Range	20 Hz to 200 kHz (3255BL)  20 Hz to 500 kHz (3255B)  20 Hz to 1 Mhz (3255BQ)
Drive Level	Source impedance 50 ? 1 mV to 10V rms into open circuit  50 µA to 200 mA rms into short circuit  Automatic Level Control (ALC) maintains level applied to DUT at ±2%, ±1 mV of set voltage or ±2%, ±0.1 mA of set current, reduces to ±4% below 100 Hz.
Internal DC Bias (Option)	1 mA to 1 A
Measurement Speeds	150VA maximum consumption
Display	High contrast monochrome LCD 320 x 240 dot with CFL back lighting Visible area 115 x 86mm Viewing angle 45°
Measurement Connections	4 front panel BNC sockets 4-wire (Kelvin) measurements with screen at ground potential Equivalent circuit symbols on screen

옵션 및 악세서리

3265B 시리즈
DC 바이어스 전류 장치, 고전류에서 부품을 평가하기 위해 Wayne Kerr 3255B 인덕턴스 분석기 또는 3260B 정밀 자기 분석기와 함께 3265B / 25A DC 바이어스 장치를 사용할 수 있습니다. 바이어스 전류는 25mA ~ 25A에서 25mA 단계로 설정할 수 있습니다.


1EV1006
4 터미널 구성 요소 고정구, 축, 방사형 또는 밴딩 된 구성 요소를위한 원격 테스트 고정구. 4 개의 BNC 커넥터에서 케이블 종단 처리 완료


1EV1505
4 터미널 리드, 600mm 연장 케이블, 기기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 구성 요소 끝에서 4 개의 개별 악어 클립으로 종단되었습니다.


1EV1905A
SMD 프로브 리드, 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 1905A ead는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와의 인터페이스에 사용됩니다.


1EV1905X
1023의 SMD 프로브 리드, 1905X는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와 인터페이스하기위한 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 4-2 BNC 변환기 및 리드입니다.


1EVA40100
켈빈 클립 (미세 턱), Wayne Kerr 켈빈 클립은 분석기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 테스트 대상 장치 끝에서 한 쌍의 4 단자 켈빈 클립으로 끝나는 0.6m 케이블 어셈블리로 구성됩니다.


1EVA40120
무연 장치에 접촉하기위한 칩 족집게, SMD 족집게. 케이블은 BNC 커넥터로 종단됩니다.


1EVA40150
켈빈 클립, 40150은 4300 시리즈 LCR 미터와 함께 사용하기위한 1EVA40100 Fine Jaw 켈빈 클립의 가격에 민감한 버전입니다.


1EVA40180
켈빈 클립 (대형 턱), 600mm 연장 케이블, 기기 끝단에는 4 개의 BNC 커넥터가 있고 종단에는 ​​큰 턱 켈빈 클립이 있습니다.


1J1015
2 단자 125A 고정 장치, 1J1015 기존 본체 2 단자 고전류 고정 장치는 Wayne Kerr Analyzer (3255B 또는 3260B) 및 DC 바이어스 장치 (3265B) 시스템을 테스트중인 기존 본체 장치에 연결하고 최대 125A를 전달하는 데 사용됩니다. DC 바이어스 전류.


1J1016
SMD 2 단자 125A 고정구, 1J1016 SMD 2 단자 고전류 고정구는 Wayne Kerr Analyzer (3255B 또는 3260B) 및 DC 바이어스 장치 (3265B) 시스템을 테스트 대상 표면 실장 장치에 연결하고 최대 125A를 통과시키는 데 사용됩니다. DC 바이어스 전류.


1J1020
유전체 재료 고정 장치, 1020 고정 장치는 6500 시리즈와 함께 사용되며 / K 재료 테스트 펌웨어 옵션과 함께 사용하면 테스트중인 재료 (MUT)의 유전율을 자동으로 계산할 수 있습니다. 접촉 전극 최대 30MHz의 주파수까지 사용되는 방법.


1J10324
SMD 4 단자 하단 접점 고정 장치, 10324 고정구는 하단 접점 표면 실장 장치에 대해 4 단자 측정을 수행하며 특히 임피던스가 낮은 장치에 적합합니다.