디지트 수 | 7.5 digit |
---|---|
전압 측정범위 | 100 mV to 1,000 V |
전류 측정범위 | 10 mA to 10 A |
저항 측정범위 | 100 to 100 Mohm |
스캐너 옵션 | 10 채널 |
특징 |
장점 |
100nV rms 노이즈 층 | 저전압 구성 요소를 빠르고 정확하게 특성화할 수 있습니다. |
7ppm DCV 반복성 |
측정 정확도의 신뢰도를 높일 수 있습니다. |
저전력 저항 측정 모드 | 최저 100μA의 낮은 소스 전류로 낮은 저항을 측정하여 장치의 자체 발열을 최소화할 수 있습니다. |
드라이 서킷 테스트 기능이 제공됩니다. |
접촉면 또는 커넥터에서 저항을 측정할 때 형성되었을 수 있는 산화막이나 기타막의 손상을 방지하기 위해 테스트 전압을 제어할 수 있습니다. |
오프셋 저항 보정 기능 | 시스템 환경에서 낮은 레벨 저항 측정 시 오류를 발생시킬 수 있는 열 효과를 방지할 수 있습니다. |
10Ω 저항 측정 범위 | 낮은 저항을 보다 정밀하게 측정할 수 있습니다. |
15개 측정 기능이 RTD 및 열전대 온도 측정을 지원합니다. | 시스템을 구축할 때 추가 장비 비용을 최소화할 수 있습니다. |
멀티 측정용 플러그 인 스위치 카드(옵션) | 멀티 스위치 및 측정 솔루션을 간편하게 만들 수 있습니다. |
모델 | 설명 | 최대 해상도 | 연결성 | 정가 |
---|---|---|---|---|
2010 | 7.5 | GPIB/RS232 | ₩5,920,000 |
특징 |
장점 |
100nV rms 노이즈 층 | 저전압 구성 요소를 빠르고 정확하게 특성화할 수 있습니다. |
7ppm DCV 반복성 |
측정 정확도의 신뢰도를 높일 수 있습니다. |
저전력 저항 측정 모드 | 최저 100μA의 낮은 소스 전류로 낮은 저항을 측정하여 장치의 자체 발열을 최소화할 수 있습니다. |
드라이 서킷 테스트 기능이 제공됩니다. |
접촉면 또는 커넥터에서 저항을 측정할 때 형성되었을 수 있는 산화막이나 기타막의 손상을 방지하기 위해 테스트 전압을 제어할 수 있습니다. |
오프셋 저항 보정 기능 | 시스템 환경에서 낮은 레벨 저항 측정 시 오류를 발생시킬 수 있는 열 효과를 방지할 수 있습니다. |
10Ω 저항 측정 범위 | 낮은 저항을 보다 정밀하게 측정할 수 있습니다. |
15개 측정 기능이 RTD 및 열전대 온도 측정을 지원합니다. | 시스템을 구축할 때 추가 장비 비용을 최소화할 수 있습니다. |
멀티 측정용 플러그 인 스위치 카드(옵션) | 멀티 스위치 및 측정 솔루션을 간편하게 만들 수 있습니다. |
모델 | 설명 | 최대 해상도 | 연결성 | 정가 |
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2010 | 7.5 | GPIB/RS232 | ₩5,920,000 |
특징 |
장점 |
100nV rms 노이즈 층 | 저전압 구성 요소를 빠르고 정확하게 특성화할 수 있습니다. |
7ppm DCV 반복성 |
측정 정확도의 신뢰도를 높일 수 있습니다. |
저전력 저항 측정 모드 | 최저 100μA의 낮은 소스 전류로 낮은 저항을 측정하여 장치의 자체 발열을 최소화할 수 있습니다. |
드라이 서킷 테스트 기능이 제공됩니다. |
접촉면 또는 커넥터에서 저항을 측정할 때 형성되었을 수 있는 산화막이나 기타막의 손상을 방지하기 위해 테스트 전압을 제어할 수 있습니다. |
오프셋 저항 보정 기능 | 시스템 환경에서 낮은 레벨 저항 측정 시 오류를 발생시킬 수 있는 열 효과를 방지할 수 있습니다. |
10Ω 저항 측정 범위 | 낮은 저항을 보다 정밀하게 측정할 수 있습니다. |
15개 측정 기능이 RTD 및 열전대 온도 측정을 지원합니다. | 시스템을 구축할 때 추가 장비 비용을 최소화할 수 있습니다. |
멀티 측정용 플러그 인 스위치 카드(옵션) | 멀티 스위치 및 측정 솔루션을 간편하게 만들 수 있습니다. |
모델 | 설명 | 최대 해상도 | 연결성 | 정가 |
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2010 | 7.5 | GPIB/RS232 | ₩5,920,000 |