6430B 및 6440B 정밀 부품 분석기는 모든 수동 부품의 고해상도에 대한 철저하고 정확한 테스트를 제공합니다. 특히 커패시터 제조업체의 경우 계측기는 빠른 자동 생산 테스트와 완전한 설계 특성화를위한 기능을 제공합니다. 사용자는 패시브 컴포넌트 설계, 제조 테스트, 재료 설계 및 테스트, 컴포넌트 특성을 평가하는 회로 설계자를 포함합니다.
공진 주파수는 해당 주파수에서 동등한 직렬 또는 병렬 회로와 함께 모든 구성 요소에 대해 자동으로 계산 될 수 있습니다. 두 계측기는 저렴한 가격으로 기본 정확도 0.02 %의 구성 요소에 대한 고성능 테스트를 위해 설계되었습니다. 6430B는 500kHz까지 지원하는 보급형 기기이며 완전한 기능을 갖춘 6440B는 3MHz까지 지원합니다.
지정된 주파수 범위에서 고속으로 부품 성능을 평가하기 위해 다중 주파수 모드가 사용됩니다. 이 모드에서 작업자는 측정 할 파라미터와 주파수를 결정합니다. 6430B 및 6440B는 나머지 작업을 수행하므로 대형 LCD 디스플레이에서 테이블을 쉽게 읽을 수 있습니다. 각 테스트에는 간단한 합격 / 불합격 표시가있을 수 있습니다.


커패시터의 빠른 자동 다중 주파수 생산 테스트
6430B 및 6440B는 생산 환경에서 커패시터의 빠른 자동 테스트를 제공합니다. 사용자는 모든 계측기 범위에서 측정을 선택하고 각 구성 요소에 대해 최대 8 개의 서로 다른 테스트를 수행 할 수 있습니다. 각 테스트마다 공차 함을 선택할 수 있습니다. 계측기는 모든 테스트를 완료 한 후 전체 빈을 선택합니다. 측정 결과는 GPIB 또는 프린터로 출력 될 수 있습니다. 테스트 시퀀스는 외부 입력, GPIB 또는 전면 패널에 의해 트리거됩니다. 테스트 순서가 완료되면 빈이 선택되고 GPIB에서 측정 된 데이터를 사용할 수 있습니다. 이 프로세스는 초고속에서 이루어지며 약 180ms 내에 이중 주파수 테스트가 완료됩니다. 통계 형식의 합격 / 불합격 데이터는 사용자가 사용할 수 있으며 LCD 디스플레이에서 보거나 로컬 프린터로 인쇄하거나 GPIB를 통해 내보낼 수 있습니다.


충전 커패시터로부터 보호
고정밀 측정 기기는 충전 된 커패시터에 민감 할 수 있으며 연결하면 비용이 많이 드는 수리 및 용납 할 수없는 다운 타임을 초래할 수 있습니다. Wayne Kerr Electronics는이 문제를 확인하고 테스트 장비를 충전 커패시터로부터 보호하는 솔루션을 개발했습니다. 이 경우 보호 장치가 퓨즈를 끊어 쉽고 저렴하게 교체 할 수 있으며 테스트 장비는 손상되지 않고 신뢰할 수있는 정확한 성능을 계속 제공합니다. 보호 장치는 최대 25 줄의 충전 된 에너지로부터 테스트 장비를 보호합니다.



 - 빠른 자동 커패시터 테스트
 - 소산 계수에 대한 높은 측정 정확도
 - 빠른 측정 속도
 - 0.02 % 기본 측정 정확도
 - 포괄적 인 측정 기능, 모든 측정 기능의 그래픽 스윕
 - 컴포넌트를 3MHz로 특성화
 - 대형 LCD 디스플레이 및 직관적 인 사용자 인터페이스
 

6440B 시리즈 Component Analyzer 사양
 

Measurement Function	Any of the following parameters can be measured and displayed: Inductance (L), impedance (Z), DC resistance (Rdc) and capacitance (C) Series or Parallel Equivalent Circuit C+R, C+D, C+Q, L+R, L+Q Series equivalent circuit only X+R, X+D, X+Q Parallel equivalent circuit only C+G, B+G, B+D, B+Q Polar Form Z + Phase Angle, Y + Phase Angle
Frequency Range	6430B - 20 Hz to 500 kHz > 1000 steps ( > 1500 steps with analysis option fitted) 6440B - 20 Hz to 3 MHz > 1800 steps
Drive Level(Rdc)	100 mV or 1 V with 100 Ω source resistance
Internal DC Bias Supply	2 V with rapid charge capacitor bias
DC Bias Voltage (External)	External supply of up to ±60 V may be connected via rear panel
Measurement Speeds	150VA maximum consumption
Display	High contrast monochrome LCD 320 x 240 dot with CFL back lighting Visible area 115 x 86mm Viewing angle 45°
Measurement Connections	4 front panel BNC sockets 4-wire (Kelvin) measurements with screen at ground potential

1EV1006
4 터미널 구성 요소 고정구, 축, 방사형 또는 밴딩 된 구성 요소를위한 원격 테스트 고정구. 4 개의 BNC 커넥터에서 케이블 종단 처리 완료


1EV1505
4 터미널 리드, 600mm 연장 케이블, 기기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 구성 요소 끝에서 4 개의 개별 악어 클립으로 종단되었습니다.


1EV1905A
SMD 프로브 리드, 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 1905A ead는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와의 인터페이스에 사용됩니다.


1EV1905X
1023의 SMD 프로브 리드, 1905X는 회로 보드의 표면 실장 장치에 액세스하고 테이프의 하이브리드 구성 요소 및 칩 구성 요소와 인터페이스하기위한 2 개의 스프링 바늘 프로브가있는 4-2 BNC 변환기 및 리드입니다.


1EVA40100
켈빈 클립 (미세 턱), Wayne Kerr 켈빈 클립은 분석기 끝에서 4 개의 BNC 커넥터와 테스트 대상 장치 끝에서 한 쌍의 4 단자 켈빈 클립으로 끝나는 0.6m 케이블 어셈블리로 구성됩니다.


1EVA40120
무연 장치에 접촉하기위한 칩 족집게, SMD 족집게. 케이블은 BNC 커넥터로 종단됩니다.


1EVA40150
켈빈 클립, 40150은 4300 시리즈 LCR 미터와 함께 사용하기위한 1EVA40100 Fine Jaw 켈빈 클립의 가격에 민감한 버전입니다.


1EVA40180
켈빈 클립 (대형 턱), 600mm 연장 케이블, 기기 끝단에는 4 개의 BNC 커넥터가 있고 종단에는 ​​큰 턱 켈빈 클립이 있습니다.


1J1012
SMD 2 단자 고정구, 1012 고정구는 접촉 표면 실장 장치를 종단하기 위해 2 단자 측정을 수행하며 중간 및 고 임피던스 장치에 적합합니다.


1J1014
SMD 4 단자 고정구, 1014 고정구는 접촉 표면 실장 장치를 종단하기 위해 4 단자 측정을 수행하며 특히 저임피던스 장치에 적합합니다.


1J1020
유전체 재료 고정 장치, 1020 고정 장치는 6500 시리즈와 함께 사용되며 / K 재료 테스트 펌웨어 옵션과 함께 사용하면 테스트중인 재료 (MUT)의 유전율을 자동으로 계산할 수 있습니다. 접촉 전극 최대 30MHz의 주파수까지 사용되는 방법.


1J1023
BNC 4-2 어댑터, 1023 어댑터를 사용하면 전면 패널에 2Term / 4Term 전환 기능이없는 4300 및 6500과 같은 4 터미널 분석기에 2 터미널 액세서리를 사용할 수 있습니다.


1J1100
보호 장치, 1100 보호 장치는 6430B 또는 6440B 구성 요소 분석기와 함께 사용하도록 설계되었으며 최대 25 줄의 에너지를 보호합니다.


1J10324
SMD 4 단자 하단 접점 고정 장치, 10324 고정구는 하단 접점 표면 실장 장치에 대해 4 단자 측정을 수행하며 특히 임피던스가 낮은 장치에 적합합니다.