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MAKER (제조사별 제품보기)

MAKER

4310 (LCR미터)

주파수 범위 20 Hz to 100 kHz
측정 파라 L, C, R, Q, G, X, B, D, Z, Y, Ө
정확도 0.1 %
DCR 측정 0.1 mΩ to > 100 MΩ (옵션)
인터페이스 RS232, USB, LAN, GPIB
포괄적인 측정 기능을 갖춘 사용하기 쉬운 LCR 미터.
20Hz에서 1MHz (43100)까지 정확하고 빠른 측정을 수행 할 수 있으므로 4300 시리즈는 테스트 또는 프로덕션 환경의 많은 응용 분야에 이상적인 선택입니다.
두 가지 테스트 모드를 사용하면 서로 다른 두 가지 계측기 매개 변수 세트로 연속 측정을 수행 할 수 있습니다. 예를 들어, 서로 다른 주파수에서 2 개의 AC 측정을 수행하거나 AC 및 Rdc 측정을 수행 할 수 있습니다.


측정 한계는 스케일 또는 오퍼레이터 모드에서 설정할 수 있습니다.
구성 요소 분류 기계에 대한 인터페이스를 제공하는 선택적 구성 요소 비닝 모듈을 지정할 수 있습니다. 계측기 비닝 모드에서 설정 한 한계를 통해 광범위한 구성 요소를 정렬 할 수 있으며 절연 또는 비 절연 모듈을 선택하면 인터페이스 유연성이 제공됩니다.
옵션 스케일러 핸들러 모듈은 한계 검사 측정을위한 PASS / FAIL 및 데이터 동기화 릴레이 출력을 제공합니다. 두 가지 출력 신호 구성이 가능합니다. 나중에 불러올 수 있도록 사용자 정의 된 이름으로 최대 20 개의 측정 설정을 저장할 수 있습니다.
모든 4300 시리즈 장비는 표준 RS232, GPIB, USB 또는 LAN 인터페이스를 사용하여 외부에서 제어 할 수 있습니다.



4300 시리즈 LCR미터 주요 특징
 - 20Hz ~ 1MHz (43100)의 테스트 구성 요소
 - 0.1 % 기본 정확도
 - <25ms 측정 시간
 - 파라미터 C, L, Z, Y, X, B, Rac, Rdc, G, Q, D, Ø
 - 하나 또는 두 개의 테스트 작업
 - 최대 4 개의 매개 변수가 표시 될 수 있습니다 (2 개의 테스트 모드)
 - 10mV ~ 2Vrms의 구동 레벨
 - 측정 대상 한계가있는 스케일 모드
 - 목표 한계가있는 운전자 모드
 - + 2V 내부 또는 최대 ± 40Vdc 외부 바이어스
 - 측정 설정 저장 및 호출
 - GPIB / IEEE-488, USB, LAN 및 RS-232 인터페이스
 - 핸들러 스케일 라이저 모듈 (선택 사항)
 - 비닝 (선택 사항)
 - 충전 커패시터로부터 보호
 - 작은 크기와 가벼운 무게

 

4300 시리즈 LCR미터 사양

  4310 4320 4350 43100
Frequency Range 20 Hz to 100 kHz 20 Hz to 200 kHz 20 Hz to 500 kHz 20 Hz to 1 MHz
Frequency Steps 5 Hz     - 20 Hz to 1 kHz
50 Hz   - 1 kHz to 10 kHz
500 Hz - 10 kHz to 100 kHz
5 kHz   - 100 kHz to 1 MHz
Measurement Function Any of the following parameters can be measured and displayed:
Impedance (Z)             Phase Angle (Ө)
Capacitance (C)           Dissipation Factor (D)
Inductance (L)             Quality Factor (Q)
AC Resistance (Rac)   Reactance (X)
Susceptance (B)          Conductance (G)
Admittance (Y)

DC Resistance (Rdc) is an option (/R) on all models.
Measurement Function -
DC Resistance (Rdc)
option (/R)
Series/parallel equivalent circuit Any combination
Polar Form Z + Ө, Y + Ө
Drive Level
(AC measurements)
Open circuit:                     10 mV to 2V rms
Voltage step size:              10 mV (200 steps)
Short circuit:                      100 µA to 20 mA rms
Current step size:              100 µA (200 steps)
Signal source impedance:   100Ω
DC Bias Voltage Internal - 2 Vdc
External - up to ±40V may be connected via rear panel

4300 시리즈 LCR미터 사양

  4310 4320 4350 43100
Frequency Range 20 Hz to 100 kHz 20 Hz to 200 kHz 20 Hz to 500 kHz 20 Hz to 1 MHz
Frequency Steps 5 Hz     - 20 Hz to 1 kHz
50 Hz   - 1 kHz to 10 kHz
500 Hz - 10 kHz to 100 kHz
5 kHz   - 100 kHz to 1 MHz
Measurement Function Any of the following parameters can be measured and displayed:
Impedance (Z)             Phase Angle (Ө)
Capacitance (C)           Dissipation Factor (D)
Inductance (L)             Quality Factor (Q)
AC Resistance (Rac)   Reactance (X)
Susceptance (B)          Conductance (G)
Admittance (Y)

DC Resistance (Rdc) is an option (/R) on all models.
Measurement Function -
DC Resistance (Rdc)
option (/R)
Series/parallel equivalent circuit Any combination
Polar Form Z + Ө, Y + Ө
Drive Level
(AC measurements)
Open circuit:                     10 mV to 2V rms
Voltage step size:              10 mV (200 steps)
Short circuit:                      100 µA to 20 mA rms
Current step size:              100 µA (200 steps)
Signal source impedance:   100Ω
DC Bias Voltage Internal - 2 Vdc
External - up to ±40V may be connected via rear panel
 
Measurement Ranges Z, R, X          0.01 mΩ to > 1 GΩ
Y, B, G          0.1 nS to > 2 kS
L                    1 nH to > 2 kH
C                    0.01 pF to > 1 F
D, Q               0.0001 to 9999.9
Phase Angle -180° to +180°
Rdc                0.1 mΩ to > 100 MΩ
Basic Accuracy 0.1% varies with speed, frequency, AC drive level and impedance of device under test
Binning (Optional) User programmable PASS and FAIL bins. 25 way D-type interface connector.
Option /B1 (non-isolated) - Common 0V. Bin outputs 0 to 5V (nominal) with >10 mA current sink capability.
Option /B2 (isolated) - Common 24V input. Outputs 0 to 24V with >10 mA current source capability.

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